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【名 稱】 Eureka
【編 號】 0293
【類 別】 自動測試設備 -> 內存檢查設備
【品 牌】 固緯
Eureka 是 R & D 、生產測試、品保 ... 等人員必需的檢驗儀器!
CST 首創由 PC 連控的專業 DDR/SDRAM 、 DIMM 記憶體測試機,能在同一部主機上 , 搭配不同的配備可測試 DDR266 、 SDRAM 、 RIMM 與 FPM/EDO 、 Flash 、 Cache 、 TsopChip 和模組的泄漏電流測試
特點
Eureka 對記憶模組進行快速的功能動態測試,并采用多個先進的檢查模式來檢測出短/斷路不良、單一顆粒不良、記憶胞間的絕緣不良、時序及雜訊問題引起的間歇性不良…等
加裝選購的漏電流測試轉接模組后,即可進行半導體漏電流特性的測試,并能檢出DRAM晶片的微小漏電流。
Eureka 具有內建的SPD(serial presence detect)燒錄器可用來燒錄及驗證測試SPD內容,可在記憶體模組測試時隨同進行。
Eureka加入了許多加強功能來提升測試的正確性,像晶片預熱chip-heating,電源電壓變動模擬voltage bouncing,循環(回路)測試loop test,
可調式時基adjustable timing parameters (selected),可調整式更新模式及周期alterable refresh mode and cycle,更新測試refresh test,
ICC電流測定,也有Address與RAS/CAS測試,不論有/無緩沖級的模組,Eureka都能支援同位與ECC 位元檢查,
另外,Eureka也能配合CST最新的RoboFlex自動取置機 來進行全自動測試,其效能表現更是如虎添翼,此外,可額外選購加裝的測試配備有Flash testing,
Cache testing,DRAM & SDRAM TSOP Chips testing
規格

DDR testing platform
Clock Frequency 200 Mhz & 266 Mhz selectable
Address Depth 4 Gigawords test capacity up to 16 row x 16 column
Data Width Expandable up to 80 bits
Timing Range -1 , 0 and 1 ns
Timing Resolution 1 ns
Vdd Range 0.1V to 2.7V with 0.1V step and 10%Bounce
Vih, Voref Range 0.1V to 2.7V with 0.1V step
Read Latency 2,3 clocks
Refresh Cycle Auto/Self Refresh - 8祍/Row
Refresh Modes Auto Refresh , Self Refresh
Leakage Test Option +/- 1礎 to +/- 5mA
Test Features Burst Mode, Programmable Data Mask, Data Strobe, and Clock Suspend Modes
Current Test Icc Standby, Icc Operating-Avg Icc up to 1.5A, Peak Curent up to 2.0A
Burst Length Programmable to 2,4,8
CAS Latency Programmable read Latency From Column Address
Serial PD 256 Bytes programmable
Testing Support Options DDR 184pin DIMM and 200pin SODIMM
SDRAM testing platform
Clock Frequency 133 mhz 100 mhz, 66mhz, 33mhz selectable
Address Depth 4 Gigawords test capacity up to 16 row x 16 column
Data Width Expandable up to 160 bits
Timing Range 0ns to 20ns in 1ns resolution
Timing Resolution in steps of 1ns resolution
Vcc Range 0.1V to 3.6V with 0.1V step and 10 %Bounce
Vih, Voref Range 0.1V to 3.6V with 0.1V step
Read Latency 1,2,3 clocks
Refresh Cycle Auto/Self Refresh - 8祍/Row to 64祍/Row
Refresh Modes RAS only, CAS before RAS, Self Refresh
Leakage Test Option +/- 1礎 to +/- 5mA
Test Features Burst Mode, Programmable Data Mask and Clock Suspend Modes
Current Test Icc Standby, Icc Operating-Avg Icc up to 1.5A, Peak Curent up to 2.0A
Burst Length Programmable to 1,2,4,8 or Full Page
CAS Latency Programmable read Latency From Column Address
Serial PD 256 Bytes programmable
Testing Support Options SDRAM 100p, 168p, 200p, 244p, 278p DIMM, 144p Sodimm, TSOP, SGRAM 144p and many more
General specifications
Power Requirements 90-130 VAC, 180-260 VAC at 50Hz or 60 Hz
Operating Temperature -20 to 100 degree Fahrenheit
Humidity 20% to 80%, non condensing
Overcurrent Protection 2A; to prevent Vcc and Ground short problems
Host Computer Requirement (Not Included) IBM PC or Compatible 386/486/Pentium with one ISA or EISA bus interface slot available for CST, Inc. proprietary interface card
Operating System Requirement (Not Included) Standard Microsoft Window Windows 95/98
 
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